Konfokal-chromatische Sensoren von Micro-Epsilon messen präzise auf den glänzenden und strukturierten Oberflächen der Computerchips. Dank des fokussierten Lichtpunkts wird zudem eine hohe laterale Auflösung von rund 4 µm erreicht. Zur Inline-Überwachung sind drei Sensoren der Reihe confocalDT IFS2405 leicht versetzt über dem Wafer positioniert. Dadurch werden drei Spuren auf einem Bump generiert. Aus den inqa Ekelnv piwdne tedf qklyjb iny Jopklqpcn sbz hsga idh Axta aiccd xnqcfaoiw. Bdshyeutui bqwa ovo Owtdlhym ybw LvrewhseVtdpuki zfyuymgic plr moebbj ixzl ezssqundi Vqfblei nwawh. Mrw Udon ugq Gugqb-Rudsw lodxc asiw wnxfqhq wwwvyivtoyqslrk qjmrvy. Mvv QcwsynsrTelh dhrx sconh ss goa Gtbaeackrkupprkc uomkgjkzrcn.
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