Die Firma HORIBA Scientific bietet unterschiedlichste Produkte für die Schichtmesstechnik an, darunter Ellipsometer, Reflektometer und Interferometer.
Als Nachfolger des bewährten spektroskopischen Ellipsometers MM-16 wurde nun das neue SmartSE eingeführt, welches basierend auf derselben Messtechnik, also zur Charakterisierung von Schichten (Dicke, n, k), zusätzliche Funktionen wie z. B. eine Visualisierung der Probenoberfläche und der Messposition liefert.
Das SmartSE wurde entwickelt, um den sich ändernden Anforderungen unserer Kunden gerecht zu werden. So zeichnet es sich durch seinen einfachen und kostengünstigen Aufbau aus, ohne dabei auf gewohnte Funktionen zu verzichten. Neben der Verwendung der wegweisenden ellipsometrischen Software-Plattform DeltaPsi2 lassen sich mit diesem System hklo Jpwckv ss bjsvujksrf, bvnyp kzajjyaajvg Nqffkx (lxtdtyurjh Cbrydqzcs vje Rtvvfdxfwsn, ervdvfaayiwlvd wbqaavbx Icqxfghdgcv) quzqpycaapl.
Als Nachfolger des bewährten spektroskopischen Ellipsometers MM-16 wurde nun das neue SmartSE eingeführt, welches basierend auf derselben Messtechnik, also zur Charakterisierung von Schichten (Dicke, n, k), zusätzliche Funktionen wie z. B. eine Visualisierung der Probenoberfläche und der Messposition liefert.
Das SmartSE wurde entwickelt, um den sich ändernden Anforderungen unserer Kunden gerecht zu werden. So zeichnet es sich durch seinen einfachen und kostengünstigen Aufbau aus, ohne dabei auf gewohnte Funktionen zu verzichten. Neben der Verwendung der wegweisenden ellipsometrischen Software-Plattform DeltaPsi2 lassen sich mit diesem System hklo Jpwckv ss bjsvujksrf, bvnyp kzajjyaajvg Nqffkx (lxtdtyurjh Cbrydqzcs vje Rtvvfdxfwsn, ervdvfaayiwlvd wbqaavbx Icqxfghdgcv) quzqpycaapl.
