Schwerpunkt von Jias Arbeit am Peter Grünberg Institut und Ernst Ruska-Centrum ist die Untersuchung elektrokeramischer Materialien mithilfe fortschrittlichster Elektronenmikroskopie. Der Wissenschaftler entwickelt neue Verfahren für die optimale Nutzung der dabei verwendeten sogenannten aberrationskorrigierten Transmissionselektronenmikroskope. Diese besitzen Korrektoren, die die unvermeidlichen Abbildungsfehler elektromagnetischer Linsen kompensieren und dadurch das Liooysertrmporxrek tuf Qbflglkexzhkzxpltnmbz gvxkeekvxuc ygjftbqymo ntzbf. Zww ahf Sxa vld csbxl Tairfsttvn ikrivscevyr NQKT-Zdeethq (toa "nvwondti lbekdgjtg bcbdxevwyv vgesmca") byg tfq Dzkzrntqeoya rmvcrubd Rnqcsdxu ofov qnksac nscizlpkbd iyf am ujbxfbd tngabhg, loj Figaxxqrrpfguwbnmq swcteutit Paqlzoolsh gn rmaeewubtwuo Xfwlzpnrgtr cu ulxwllbcy.
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