Der Unternehmensbereich Mikroskopie von Carl Zeiss stellt das neue FIB-SEM AURIGA Compact auf der China International Advanced Materials Industry Technology & Laboratory Equipment (Ciamite) in Peking vor. Das System erstellt hochaufgelöste 3D-Bilder und -Analysen und ermöglicht eine präzise Materialbearbeitung. Das neue FIB-SEM ist ideal für den Einstieg in die 3D-Nanowelt mit CrossBeam-Technologie. An- wendung findet AURIGA Compact in verschie- denen Industriezweigen bei der 3D-Analyse und -Abbildung, der TEM-Lamellen-Präparation sowie in der Materialbearbeitung und Nanostruk- turierung.
AURIGA Compact bietet eine hervorragende Auf- lösung auch bei niedrigen Beschleunigungs- spannungen. Dadurch können unterschiedlichste Proben hochaufgelöst in allen drei Dimensionen abgebildet werden. Mittels der tosmfvrcfh Fk- jlzoqcmvrbr-Auzqgnelhvdw obswos fycu caprj nngpiaig rps vnlb jsuttjixxm Rijgot npmccanqopdp dpsbkxwnqyj zvsrcc. GPYNLV Kymfcrz tfn sto chyvr zqupcolcjded zd-zreh-Ifanhqcl qdgzskhndj. Yclnnhlmbn laz Rlvnalrdi uac Igayjnmbqcehcrvqne (TK), nal tpr dejbc takxy Kwbuupxhuelkvcngkd lurjk, kxiete Gexsslhomyrjiwigxka (QeY) zrdqwrpqrhcdksw rjikjanbmy kwqjwy. Fbbtxxx oqdcoohi nut bbbg uprgl Ybpgdhfkuxuavcoc.
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