Advantest Corporation, ein führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, stellt mit der neuen T2000 IMS Testlösung ein System vor, mit dem sich Mikrocontroller mit integrierten analogen Schaltungen und embedded Flash-Speichern sehr kostengünstig und massiv-parallel testen lassen. Advantest zeigt das neue Testsystem auf der SEMICON Japan (Stand #8C-901, Halle 8), die vom 5.-7. Dezember auf dem Makuhari Messegelände in Chiba, Japan stattfindet.
Advantest hat die neue integrierte und massiv parallele Testlösung für gleichzeitigen Test von bis zu 256 hochintegrierten Bauteilen entwickelt, wobei ein hoher Durchsatz und kurze Testzeiten mit einer parallelen Effizienz von mehr als 99 Prozent erreicht werden. Die universelle Pin-Architektur des
Advantest hat die neue integrierte und massiv parallele Testlösung für gleichzeitigen Test von bis zu 256 hochintegrierten Bauteilen entwickelt, wobei ein hoher Durchsatz und kurze Testzeiten mit einer parallelen Effizienz von mehr als 99 Prozent erreicht werden. Die universelle Pin-Architektur des
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