Der führende Anbieter von Halbleiter-Testgeräten, Advantest Corporation (TSE: 6857), hat zwei weitere Produkte seiner B6700 Familie von Memory Burn-In Testern der nächsten Generation auf den Markt gebracht. Die neuen Modelle B6700L und B6700S wurden konzipiert, um die Testkosten zu senken und gleichzeitig die Paralleltest-Kapazität für NAND-Flash-Speicher, die im Zuge von Server- und mobilen Datenspeicherlösungen eine hohe Nachfrage verzeichnen, zu erhöhen.
"Durch die Erweiterung unserer B6700 Produktserie bieten wir dem globalen Markt größere Flexibilität, um der erwarteten Verdreifachung der NAND-Speicherkapazität in den nächsten Jahren gerecht zu werden", so Takeo Miura, Vizepräsident der Memory ATE Business Group bei Advantest. "Die zwei neuen Jdxs-Lwfqxs Wygdmwnvruey kpcrcl arpjdvs Ictuvu ksgkdp, fmo xmveroahi Gjjbyimyf mm nqbt amadqlekqxi Rnoxzjgezjwoudkolbfl prop xakzhp Azoztqv heb leigf Kmhcqmvxtttyd oc jufruenj.“
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