Advantest Corporation (TSE:6857, NYSE: ATE), ein führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, präsentiert auf der Semicon Europa sein breites Produktportfolio, das Nanotechnologie-Produkte, Terahertz-Systeme und Halbleiter-Testlösungen umfasst. Die Messe findet vom 7. bis 9. Oktober 2014 in der Alpexpo in Grenoble, Frankreich statt.
Besonderes Highlight sind die Multi-Vision CD-SEM-Messtechnik und das E-Beam-Lithographie System. Das Advantest E-Beam-Lithographie-Tool bietet eine hervorragende Auflösung und Genauigkeit bei hoher Schreibgeschwindigkeit, während sich das CD-SEM-System durch eine deutlich verbesserte Messgenauigkeit und höheren Durchsatz auszeichnet. Erstmals werden auch die neuen Advantest Terahertz-Systeme zur zerstörungsfreien Bestimmung der Chip-Gehäusedicke und time-domain reflectometry vorgestellt. Sie ermöglichen eine höhere Produktivität in der Halbleiter-Produktion.
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Besonderes Highlight sind die Multi-Vision CD-SEM-Messtechnik und das E-Beam-Lithographie System. Das Advantest E-Beam-Lithographie-Tool bietet eine hervorragende Auflösung und Genauigkeit bei hoher Schreibgeschwindigkeit, während sich das CD-SEM-System durch eine deutlich verbesserte Messgenauigkeit und höheren Durchsatz auszeichnet. Erstmals werden auch die neuen Advantest Terahertz-Systeme zur zerstörungsfreien Bestimmung der Chip-Gehäusedicke und time-domain reflectometry vorgestellt. Sie ermöglichen eine höhere Produktivität in der Halbleiter-Produktion.
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