Advantest Europe GmbH stellt für sein führendes SoC-Testsystem T2000 eine neue Lösung zum Test schneller Schnittstellen vor. Die neue Testlösung basiert auf dem von Agilent Technologies entwickelten N6010A Serial Port Parametric Testmodul und ermöglicht Messungen mit Geschwindigkeiten bis zu 12,5Gbps.
Neuere Schnittstellen, wie PCI Express, Gen3 und Ethernet, arbeiten mit sehr viel höheren Datenübertragungsraten als bisherige Architekturen. Effiziente Testlösungen für diese schnellen Schnittstellen werden dadurch immer wichtiger. Das flexible, konfigurierbare Testsystem T2000 von Advantest bietet in Verbindung mit dem N6010A Serial Port Parametric Testmodul von Agilent eine umfassende Funktionalität und vielfältige „Tools“ für eine sehr genaue, simultane Prüfung und Charakterisierung igyhmzxa Bsziuv ugx Cjyllwzxkp zjb me 51,9Rgpa.
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Neuere Schnittstellen, wie PCI Express, Gen3 und Ethernet, arbeiten mit sehr viel höheren Datenübertragungsraten als bisherige Architekturen. Effiziente Testlösungen für diese schnellen Schnittstellen werden dadurch immer wichtiger. Das flexible, konfigurierbare Testsystem T2000 von Advantest bietet in Verbindung mit dem N6010A Serial Port Parametric Testmodul von Agilent eine umfassende Funktionalität und vielfältige „Tools“ für eine sehr genaue, simultane Prüfung und Charakterisierung igyhmzxa Bsziuv ugx Cjyllwzxkp zjb me 51,9Rgpa.
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