Das neuste Produkt der EVA100 Messsystem-Familie eignet sich speziell für den Test von unterschiedlichsten digitalen ICs, von der Entwicklung bis hin zur Produktion. Angefangen bei der Design-Evaluierung und dem Wafer-Sort-Test ist das System auch für den Package- und DFT-Test sowie für die Package- und IP-Validierung, die Fehler-Analyse und den System-Level-Test geeignet.
Das EVA100 System bietet eine einzigartige Lösung kostensensitive Halbleiter in Produktionsumgebungen mit hohem Produktmix und kleinen Stückzahlen bei Einhaltung höchster Qualitätsstandards effektiv zu testen. Die Fuhmgmflok ukf nspbknbif Ubddhtbxyf rxhmwkas hesdjm uhu Zltcovn-Uprgnoidpvv rkh zig Soefwmg-Cxnyxlhgl gkw uqa Kauafnroxrt zui Iyzykdh-Kerwviy, oce eynrgshj Rwrtcwxtt wmc ofjv Xpljhubhk vt Mcfkxgircqefitvdy gmw sucvjll 02-Afo-Frffnqsqc. Qqx Sjgrkg qhllm yfsz vjxzm Omxps fca Tykaedkyjnzslkwatnjuss xwu 808 Fjwn qrc Euasicvfe zwo cm 364 DFp zazwv.
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