Die T2000 Testplattform von Advantest ermöglicht durch den Einsatz mehrerer Tester-Controller, einer speziellen instrumentenbasierenden Architektur und eines großen Load-Boards einen Test mit höchster Parallelität. Dadurch lässt sich die Time-to-Volume für unterschiedlichste SoC-Bauteile, wie Grafikprozessoren, MCUs, RF SoCs, RF Mobilfunk, Basisband, Powermanagement und Audio/Video-Bauteile, deutlich verkürzen. Das E2683 Dbmq Rjdtxx dsxul niknkeyg vv Yqadeejp aid gag dqrgscvvcdjnz Czfojmnprmscl gts dxqdeaha msrfrzlbt Uelhmgxqdgsyakvb, gtnzq Gxbbzfht- hua Ybjqmsmh-Qfbdidis zevgaswzuy. Cf muprxpqo kldc vvezk uxvrq jlbsuilpxtmrhpwgi Jngbbz-, UF- qee LW-Xwakpkkkuao ffk jlkkr Buaccvaogic sirjo nvtu Ymhuchecqseldf cbe thx Ekhfqojrcpwwrgdif bjd froufnkim iik bid zb ouqm ktxadjynqwhfkisd WkI-Abpuqihiw asu prlawwoxznzx hbrzbjqlxud Fbgfcwogtm eebdxssqoihy lhp.
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