Die Strahlanalyse in mehreren Ebenen vereinfacht und beschleunigt die Entwicklung und Produktion.
Die Strahlprofilanalyse ist in vielerlei Hinsicht in der Photonik ein wichtiges Instrument.
Die genaue Intensitätsverteilung in einem fokussierten Laserstrahl ist bei vielen Anwendungen wie beispielsweise der Durchflusszytometrie, bei Laserdrucken und Laserschneiden kritisch.
Intensitätsprofilmessungen können Produkte und Prozesse stark verbessern und vereinfachen, was zu erheblichen Kosten- und Zeitersparnissen führt. Falls Sie bei einem fokussierten Strahl schon einmal einen konventionellen Beam Profiler in einer einzigen Messebene benutzt haben, wissen Sie, wie zeitaufwendig die Justage und die Messung von Divergenz, M² und des Fokus sein kann.
Laser 2000 bietet mit dem Schlitzscanner BeamMap™2 von DataRay ein Strahlanalysegerät an, das das Strahlprofil in 4 bzw. 5 Ebenen gleichzeitig misst. Dies ermöglicht eine einfache und schnelle Justage von komplizierten Lasersaufbauten. Das USB 2.0 Messgerät mit XY-Schlitzpaaren in verschiedenen Z-Ebenen auf einem rotierenden „Puck“ berechnet aus den Strahlprofilen die Durchmesser (nach ISO 11146) und die Mittelpunkte, was in Echtzeit die Angabe und Justage von folgenden Parametern erlaubt:
Das Whitepaper beschreibt, wie die einzigartige, patentierte Fähigkeit des BeamMap™2 XYZΘΦ in Echtzeit misst und die Justage von Laseranordnungen beschleunigt und vereinfacht.
Die Strahlprofilanalyse ist in vielerlei Hinsicht in der Photonik ein wichtiges Instrument.
Die genaue Intensitätsverteilung in einem fokussierten Laserstrahl ist bei vielen Anwendungen wie beispielsweise der Durchflusszytometrie, bei Laserdrucken und Laserschneiden kritisch.
Intensitätsprofilmessungen können Produkte und Prozesse stark verbessern und vereinfachen, was zu erheblichen Kosten- und Zeitersparnissen führt. Falls Sie bei einem fokussierten Strahl schon einmal einen konventionellen Beam Profiler in einer einzigen Messebene benutzt haben, wissen Sie, wie zeitaufwendig die Justage und die Messung von Divergenz, M² und des Fokus sein kann.
Laser 2000 bietet mit dem Schlitzscanner BeamMap™2 von DataRay ein Strahlanalysegerät an, das das Strahlprofil in 4 bzw. 5 Ebenen gleichzeitig misst. Dies ermöglicht eine einfache und schnelle Justage von komplizierten Lasersaufbauten. Das USB 2.0 Messgerät mit XY-Schlitzpaaren in verschiedenen Z-Ebenen auf einem rotierenden „Puck“ berechnet aus den Strahlprofilen die Durchmesser (nach ISO 11146) und die Mittelpunkte, was in Echtzeit die Angabe und Justage von folgenden Parametern erlaubt:
- Z-Fokusposition (mit µm Genauigkeit)
- M²
- Φ Strahldivergenz
- XY-Position
- Φ Eintrittswinkel, bezogen auf das Messgerät
Das Whitepaper beschreibt, wie die einzigartige, patentierte Fähigkeit des BeamMap™2 XYZΘΦ in Echtzeit misst und die Justage von Laseranordnungen beschleunigt und vereinfacht.
