Press release
| [ BoxID 190161, Hardware ] ISO-Meeting stellt Weichen für weltweite RFID-Spezifikation„RFID im Blick“ berichtet über aktuelle Standardisierungsentwicklungen ![]() Heinrich Oehlmann (pressebox) Amelinghausen, 21.07.2008 - Entscheidende Schritte für die Standardardisierung von Barcode und RFID im übergreifenden Supply-Chain-Management hat das diesjährige ISO/IEC JTC1/SC 31 Plenary Meeting in Toronto erzielt. Heinrich Oehlmann, AIM-Liaison und Obmann DIN NA 043-01-31, berichtet in der aktuellen Ausgabe von „RFID im Blick“ über die wichtigsten Ergebnisse des 5-tägigen Expertentreffens. About RFID im Blick:
"RFID im Blick", das Medium für kontaktlosen Datentransfer, berichtet 10 x im Jahr aktuell und unabhängig über die neusten Entwicklungen am RFID-Markt. Im Fokus stehen Themen wie Logistik, Handel, Warenwirtschaft, Verkehr, Zutritt, Automotive, Pharma und Medizin. Die abwechslungsreiche Mixtur aus Anwenderstories, Reports, Interviews, Reportagen und Nachrichten überzeugt Anwender und Branchen-Insider gleichermaßen.
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